三坐標(biāo)光學(xué)影像測(cè)量?jī)x的技術(shù)常見(jiàn)特征!發(fā)表時(shí)間:2023-04-23 17:48作者:怡信測(cè)量 現(xiàn)代測(cè)量?jī)x器已從過(guò)去的機(jī)械式測(cè)量發(fā)展到目前的光機(jī)電一體化高度集成的非接觸式光學(xué)影像測(cè)量技術(shù)。與傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器比較,非接觸式三坐標(biāo)光學(xué)影像測(cè)量?jī)x器主要有以下幾個(gè)主要特征: 1.測(cè)量方式多樣性:非接觸式光學(xué)影像測(cè)量 傳統(tǒng)的測(cè)量方式為機(jī)械式游標(biāo)卡尺、千分尺等接觸式測(cè)量;現(xiàn)代的測(cè)量方式多樣,有激光掃描測(cè)量和光學(xué)影像測(cè)量等測(cè)量技術(shù),尤其是光學(xué)影像式測(cè)量在近年得到了推廣和應(yīng)用。利用傳感器技術(shù)、電子技術(shù)、軟件技術(shù)和光學(xué)CCD 成像等綜合性學(xué)科技術(shù),對(duì)所測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行圖像處理分析、檢測(cè),有效的解決了人為因素對(duì)產(chǎn)品造成的不確定影響,提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確度。 2. 高精密測(cè)量:精度由傳統(tǒng)毫米級(jí)、微米級(jí)向納米級(jí)邁進(jìn),測(cè)量精度等級(jí)得到了質(zhì)的提高 傳統(tǒng)的檢測(cè)方法,主要使用鋼板尺、游標(biāo)卡尺和千分尺等常用檢測(cè)器具對(duì)所測(cè)物品進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量精度只能達(dá)到毫米、最多微米等級(jí),測(cè)量精度低下,已不能滿足現(xiàn)代化機(jī)械裝備制造業(yè)的發(fā)展需求。非接觸式三坐標(biāo)光學(xué)影像測(cè)量?jī)x,通過(guò)科學(xué)的圖像處理分析計(jì)算方法,精度等級(jí)可以達(dá)到微米、納米級(jí)精度,提高了檢測(cè)的精度等級(jí),為制造業(yè)的發(fā)展提供了可靠的保證。 3.高效率檢測(cè):全自動(dòng)大批量檢測(cè) 傳統(tǒng)的檢測(cè)方式都是手動(dòng)、單件的檢測(cè),如果遇到大批量生產(chǎn),要求全檢等,就會(huì)造成檢測(cè)效率低下,而且增加更多的人為不確定因素。非接觸式光學(xué)影像測(cè)量,通過(guò)全自動(dòng)伺服控制,加上配備合理的工裝驗(yàn)具將極大的提高檢測(cè)的效率和準(zhǔn)確度,每分鐘可檢測(cè)幾個(gè)、幾十個(gè)甚至更多的產(chǎn)品,特別適合大批量生產(chǎn)和檢測(cè)。 4. 測(cè)量范圍的多樣性:同一儀器可檢測(cè)長(zhǎng)度、角度和圓度等多種元素 傳統(tǒng)的檢測(cè)驗(yàn)具主要檢測(cè)長(zhǎng)度尺寸,如鋼板尺、游標(biāo)卡尺和千分尺等,對(duì)于圓度、角度等的檢測(cè)又得更換其他專(zhuān)用的檢測(cè)量具;非接觸三坐標(biāo)光學(xué)影像測(cè)量?jī)x器,可同時(shí)檢測(cè)長(zhǎng)度、角度、圓度等多種元素,一職多責(zé),滿足客戶全方位檢測(cè)需求。 |